Publikationsdetails

Zitat:	, "Assignment of Reflection Difference Spectroscopy Peaks to Surface Layers" , 1998, M. Schmid, K. Hingerl, D. Stifter, A. Bonanni, H. Sitter: Assignment of Reflection Difference Spectroscopy Peaks to Surface Layers, J. Cryst. Growth 184/185,218
Original Titel:	Assignment of Reflection Difference Spectroscopy Peaks to Surface Layers
Sprache des Titels:	Englisch
Englischer Titel:	Assignment of Reflection Difference Spectroscopy Peaks to Surface Layers
Erscheinungsjahr:	1998
Notiz zum Zitat:	M. Schmid, K. Hingerl, D. Stifter, A. Bonanni, H. Sitter: Assignment of Reflection Difference Spectroscopy Peaks to Surface Layers, J. Cryst. Growth 184/185,218
Publikationstyp:	Aufsatz / Paper in sonstiger referierter Fachzeitschrift
Forschungseinheiten:	Abteilung für Festkörperphysik Institut für Halbleiter- und Festkörperphysik

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