Klaus Schmidegg, Alberta Bonanni, Helmut Sitter,
"In-situ optical analysis of low temperature MOCVD GaN nucleation layer formation via multiple wavelength ellipsometry"
, in J.Cryst.Growth, Vol. 272, 2004
Original Titel:
In-situ optical analysis of low temperature MOCVD GaN nucleation layer formation via multiple wavelength ellipsometry
Sprache des Titels:
Englisch
Journal:
J.Cryst.Growth
Volume:
272
Erscheinungsjahr:
2004
Anzahl der Seiten:
4
Publikationstyp:
Aufsatz / Paper in sonstiger referierter Fachzeitschrift
Forschungs-