Renate Hiesgen, Dieter Meissner, W. Schmickler,
"Tip Effects in the Scanning Tunneling Microscopy of Semiconductor Electrodes"
, 1-2001, ISBN: S0039-6028(01)00976-1, Tip Effects in the Scanning Tunneling Microscopy of Semiconductor Electrodes, R. Hiesgen, D. Meissner, W. Schmickler, Surface Science 479 (2001), 183-190
Original Titel:
Tip Effects in the Scanning Tunneling Microscopy of Semiconductor Electrodes
Sprache des Titels:
Deutsch
Erscheinungsmonat:
1
Erscheinungsjahr:
2001
Notiz zum Zitat:
Tip Effects in the Scanning Tunneling Microscopy of Semiconductor Electrodes, R. Hiesgen, D. Meissner, W. Schmickler, Surface Science 479 (2001), 183-190
ISBN:
S0039-6028(01)00976-1
Anzahl der Seiten:
8
Publikationstyp:
Aufsatz / Paper in sonstiger referierter Fachzeitschrift