Meßung von Einzeltransistorstrukturen und Testschaltungen für die Entwicklung eines geeigneten Schaltungssimulationsmodells für den n-typ SiGe modulationsdotierten Feldeffekt-
transistor (MODFET).
Sprache der Kurzfassung:
Deutsch
Englische Bezeichnung:
Daimler Benz - Messungen
Englische Kurzfassung:
Measurement of single transistor structures and test circuits to develope a n-typ SiGe modulation doped field effect transistor (MODFET) model for circuit simulation.
Forschungs-