Entwurf und Layout eines Test-Chips für den n-typ SiGe modulationsdotierten Feldeffekttransistor (MODFET). Meßung von Einzeltransisorstrukturen und Testschaltungen für die Entwicklung eines geeigneten Schaltungssimulationsmodells des MODFET.
Sprache der Kurzfassung:
Deutsch
Englische Bezeichnung:
SiGe-Hetero-CMOS
Englische Kurzfassung:
Test chip design and layout for a n-typ SiGe modulation doped field effect transistor (MODFET). Measurement of single transistor structures and test circuits to develope a MODFET model for ciruit simulation.