J. Franc, E. Belas, A. L. Toth, Yu. M. Ivanov, Helmut Sitter, P. Moravec, P. Höschl,
"Determination of Diffusion Lengths of Minoriy Carriers in Cd1-xZnxTe (x = 0.04) by EBIC Method"
, in Semiconductor Science and Technology, Vol. 13, Nummer 3, Seite(n) 314-317, 1998, J. Franc, E. Belas, A. Toth, Yu. Ivanov, H. Sitter, P. Moravec, P. Höschl: Determination of Diffusion Lengths of Minoriy Carriers in Cd1-xZnxTe (x = 0.04) by EBIC Method, J. Cryst. Growth 184/185, 1039 (1998)
Original Titel:
Determination of Diffusion Lengths of Minoriy Carriers in Cd1-xZnxTe (x = 0.04) by EBIC Method
Sprache des Titels:
Englisch
Journal:
Semiconductor Science and Technology
Volume:
13
Number:
3
Seitenreferenz:
314-317
Erscheinungsjahr:
1998
Notiz zum Zitat:
J. Franc, E. Belas, A. Toth, Yu. Ivanov, H. Sitter, P. Moravec, P. Höschl: Determination of Diffusion Lengths of Minoriy Carriers in Cd1-xZnxTe (x = 0.04) by EBIC Method, J. Cryst. Growth 184/185, 1039 (1998)